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  • BX-Y1245B600高溫四探針雙電組合電阻率測試儀
    BX-Y1245B600高溫四探針雙電組合電阻率測試儀

    產品型號

    BX-Y1245B

    廠商性質

    生產廠家

    更新時間

    2024-05-15

    瀏覽次數

    1061

    產品描述

    600高溫四探針雙電組合電阻率測試儀用于:企業、高等院校、科研部門對導電陶瓷、硅、鍺單晶(棒料、晶片)電阻率、測定硅外延層、擴散層和離子注入層的方塊電阻以及測量導電玻璃(ITO)和其它導電薄膜等新材料方塊電阻、電阻率和電導率數據. 雙電測四探針儀是運用直線四探針雙位測量。設計參照單晶硅物理測試方法并參考美國 A.S.T.M 標準。
  • BX-Y1245C800高溫四探針雙電組合電阻率測試儀
    BX-Y1245C800高溫四探針雙電組合電阻率測試儀

    產品型號

    BX-Y1245C

    廠商性質

    生產廠家

    更新時間

    2024-05-15

    瀏覽次數

    1109

    產品描述

    800高溫四探針雙電組合電阻率測試儀用于:企業、高等院校、科研部門對導電陶瓷、硅、鍺單晶(棒料、晶片)電阻率、測定硅外延層、擴散層和離子注入層的方塊電阻以及測量導電玻璃(ITO)和其它導電薄膜等新材料方塊電阻、電阻率和電導率數據. 雙電測四探針儀是運用直線四探針雙位測量。設計參照單晶硅物理測試方法并參考美國 A.S.T.M 標準。
  • BX-Y1245D1000高溫四探針雙電組合電阻率測試儀
    BX-Y1245D1000高溫四探針雙電組合電阻率測試儀

    產品型號

    BX-Y1245D

    廠商性質

    生產廠家

    更新時間

    2024-05-15

    瀏覽次數

    1228

    產品描述

    1000高溫四探針雙電組合電阻率測試儀用于:企業、高等院校、科研部門對導電陶瓷、硅、鍺單晶(棒料、晶片)電阻率、測定硅外延層、擴散層和離子注入層的方塊電阻以及測量導電玻璃(ITO)和其它導電薄膜等新材料方塊電阻、電阻率和電導率數據. 雙電測四探針儀是運用直線四探針雙位測量。設計參照單晶硅物理測試方法并參考美國 A.S.T.M 標準。
  • BX-Y1245E1200高溫四探針雙電組合電阻率測試儀
    BX-Y1245E1200高溫四探針雙電組合電阻率測試儀

    產品型號

    BX-Y1245E

    廠商性質

    生產廠家

    更新時間

    2024-05-15

    瀏覽次數

    1067

    產品描述

    1200高溫四探針雙電組合電阻率測試儀用于:企業、高等院校、科研部門對導電陶瓷、硅、鍺單晶(棒料、晶片)電阻率、測定硅外延層、擴散層和離子注入層的方塊電阻以及測量導電玻璃(ITO)和其它導電薄膜等新材料方塊電阻、電阻率和電導率數據. 雙電測四探針儀是運用直線四探針雙位測量。設計參照單晶硅物理測試方法并參考美國 A.S.T.M 標準。
  • BX-Y1245F1400高溫四探針雙電組合電阻率測試儀
    BX-Y1245F1400高溫四探針雙電組合電阻率測試儀

    產品型號

    BX-Y1245F

    廠商性質

    生產廠家

    更新時間

    2024-05-15

    瀏覽次數

    1026

    產品描述

    1400高溫四探針雙電組合電阻率測試儀用于:企業、高等院校、科研部門對導電陶瓷、硅、鍺單晶(棒料、晶片)電阻率、測定硅外延層、擴散層和離子注入層的方塊電阻以及測量導電玻璃(ITO)和其它導電薄膜等新材料方塊電阻、電阻率和電導率數據. 雙電測四探針儀是運用直線四探針雙位測量。設計參照單晶硅物理測試方法并參考美國 A.S.T.M 標準。
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